
Größere Teile mit mikroskopischer Präzision messen
Wie lässt sich der zugängliche Oberflächenmessbereich von Bewegungssteuerungs- und Positioniersystemen auf größere Teile erweitern, ohne dabei die Auflösung zu beeinträchtigen? Das bewährte Stichting hat Nachteile, die ein Messtechnikhersteller ausgleicht, indem er die Positionsdaten des Sensors erfasst und per Software ein hochaufgelöst vermessenes großes Sichtfeld erstellt.








































