
„Die Komplexität der Deep- Learning-Nutzung muss sinken“
Wie lässt sich der Einsatz von künstlicher Intelligenz vereinfachen? Christian Eckstein von MVTec erläutert im Interview die größten Hindernisse und mögliche Lösungen. Außerdem stellt er eine neue KI-Funktion vor, die bei der Inspektion selbstständig den Kontext miteinbezieht, um so beispielweise vertauschte Etiketten zu erkennen.








































