Piezo-Scantische für Probenpositionierung

Die Pinano-Scantische von Physik Instrumente (PI) wurden speziell auf die Anforderungen der Probenpositionierung in der optischen Mikroskopie abgestimmt. Sie positionieren mit Subnanometer-Genauigkeit, erlauben Stellwege bis 200 µm in zwei oder drei Achsen und lassen sich dank einer Bauhöhe von lediglich 20 mm platzsparend im Mikroskop integrieren. Durchlichtanwendungen profitieren von der großen zentralen Öffnung. Die große Apertur nimmt Halter für Petrischalen oder für Standardobjektträger mit 25 auf 75 mm Größe auf. Auch ein Halter für weiteres Zubehör ist verfügbar. Als praxisgerechte Ergänzung dient zudem ein wahlweise manuell oder motorisch bewegter Kreuztisch, mit dem sich die Proben dann auch über längere Strecken (grob) verstellen lassen.