19.03.2026 • Produkte

Qualitätssicherungssystem PS Advanced

PS Advanced von MST Vision ist ein System zur Oberflächenprüfung auf Basis des Photometric-Stereo-Verfahrens.

Photo
PS Advanced von MST Vision ist ein System zur Oberflächenprüfung auf Basis des Photometric-Stereo-Verfahrens .
© MST Vision

Durch die Trennung von Textur und Topographie ermöglicht PS Advanced eine präzise Defekterkennung auf komplexen Oberflächen. Für Aufnahmen in Bewegung verfügt das System über eine Encoder-basierte Kompensation, die Bewegungsartefakte bei bis zu 100 Teilen pro Sekunde rein Hardware-basiert eliminiert. Mit der 10 GigE/RDMA-Kameratechnik und GPU-basierten Berechnung der 3D-Höhenkarte bleibt die CPU größtenteils unbelastet. Das System lässt sich über die GenICam-Schnittstelle unabhängig von spezifischer Software integrieren, was Integratoren ermöglicht, PS Advanced als offene Lösung mühelos in bestehende Anwendungen einzubinden.


Anbieter

MSTVision GmbH

Im Weiherfeld 10
65462 Ginsheim-Gustavsburg
Deutschland

Kontakt zum Anbieter







Video-Produktion

Das cross-mediale Sonderformat der messtec drives Automation

Das cross-mediale Sonderformat der messtec drives Automation

Mehr Sichtbarkeit zur SPS: Präsentieren Sie Ihre Expertise im exklusiven Videotalk mit unserer Redaktion. Hochwertig produziert, breit verbreitet und ideal zur Positionierung als Branchenführer.

E-Special

E-Special Intralogistik & Logistik
Fokus-Thema

E-Special Intralogistik & Logistik

Unser neues E-Special bringt Trends, Expertenmeinungen, Technologien und Lösungen für effizientere Prozesse. Lesen Sie es jetzt kostenfrei.

Meist gelesen

Photo

3D-Kamera Nion

Die 3D-Time-of-Flight-Kamera Nion kombiniert hohe Ortsauflösung mit präziser Tiefenwahrnehmung für detailreiche 3D‑Daten auch bei schnellen Bewegungen oder schwierigen Umgebungen.

Photo

SWIR Smart Kamera Alecs

Das Alecs-Smart-Kamera-Portfolio wird um den Sony IMX993 SWIR-Sensor erweitert – ein 3,2 MP InGaAs-Sensor mit 2.080 × 1.544 Auflösung, Global Shutter und einem Spektralbereich von 400–1700 nm.