Webinar: Mit Mikroskopen Fehler schnell finden

Die Lichtmikroskopie ist im Bereich der industriellen Qualitätsprüfung weit verbreitet und die neue opto-digitalen Technologie baut auf diesem Erfolg auf. Sie vereint das Beste aus den Welten der optischen und der digitalen Technologien und bieten in fast jedem Fertigungsumfeld Möglichkeiten, Qualitätsprüfungen weiter zu verbessern. Gegenüber der herkömmlichen Lichtmikroskopie sind die opto-digitalen Systeme insbesondere bei der Inspektion von Produktionsfehlern von Vorteil.

Bei elektronischen Geräten beispielsweise hängt die Funktionsfähigkeit von der Leiterplatte (PCB) ab. Defekte am PCB beeinträchtigen wohlmöglich die Funktion. Mit herkömmlichen Stereomikroskopen werden solche Fehler häufig übersehen, wenn sie von hervorstehenden Bauteilen oder Schatten verdeckt sind. Auch eine Verkippung der Probe ist nicht ideal und zudem nicht immer möglich. Die Möglichkeiten der opto-digitalen Plattform lösen dieses Problem, denn das DSX100 von Olympus erlaubt eine freie Einstellung des Betrachtungswinkels. Dabei lässt sich der Kopf des Mikroskops stufenlos von einer zur anderen Seite neigen. Somit kann das Objekt bei gleichbleibender Fokussierung berührungslos aus verschiedenen Blickwinkeln untersucht werden. Dabei sorgt das massive Stativ durch seinen tiefen Schwerpunkt für hohe Stabilität auch während der Winkeleinstellung. 

Nehmen Sie am Webinar "Benefits of opto-digital microscopes for industrial inspection" teil, das am 24. Oktober um 16:00 Uhr (MEZ) stattfindet. Miriam Schwentker von Olympus wird die Vorzüge der opto-digitalen Mikroskopie für die Oberflächeninspektion und -metrologie im Bereich der industriellen Qualitätsprüfung erläutern. Zu dem Thema haben wir auch bereits ein englischsprachiges Whitepaper bereit gestellt, dass man sich kostenlos herunterladen kann.

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