Nanofocus: Positive Bilanz der Control 2015
Die Control, Internationale Fachmesse für Qualitätssicherung, war für die NanoFocus AG im Jahr 2015 erneut ein Erfolg. Als Neuheit präsentierte NanoFocus das 3D- Profilometer µscan select, ein neues Produkt auf Basis der bewährten µscan-Technologie. Weitere Schwerpunkte der Nachfrage waren automatisierbare und inline-fähige Oberflächenmesssysteme sowie das Labormesssystem µsurf expert. „Wir freuen uns über das große Interesse an unserer Messtechnik. Die Resonanz des Fachpublikums und die große Anzahl konkreter Kundenanfragen lassen uns positiv auf die kommende Geschäftsentwicklung blicken, " sagt Jürgen Valentin, Technologievorstand und Vorstandssprecher der NanoFocus AG.
Auf der Control stellte NanoFocus erstmals das 3D-Profilometer µscan select vor. Die µscan-Technologie misst bis zu 100-mal schneller als herkömmliche Tastsysteme. Mit seiner modularen Bauweise und zahlreichen Sensorkombinationen ist das System an zahlreiche Messaufgaben im Labor und Produktionsumgebungen genau anpassbar. Auch das Labormesssystem µsurf expert, erstmals vorgestellt auf der letztjährigen Control, überzeugte Interessenten mit seiner großen Messperformance dank 4 Megapixel Kameramodul, Messdaten in 16 Bit und hochpräzisen Glasmaßstäben in allen Verfahrachsen. In Hinblick auf die zunehmende Bedeutung von verknüpften Prozessketten unter dem Stichwort Industrie 4.0 zeigten Messebesucher aus zahlreichen Branchen darüber hinaus großes Interesse an den vielseitigen und industrietauglichen Automationsmöglichkeiten der NanoFocus-Messtechnik.
