LIV-Testsysteme für Laserdioden

Er kombiniert zwei Messkurven in einer Grafik: Die L/I-Kurve zeigt die Abhängigkeit der optischen Lichtintensität des Lasers vom Betriebsstrom und dient zur Bestimmung von Betriebspunkt und Schwellenstrom. Die V/I-Kurve zeigt die am Laser anliegende Spannung in Abhängigkeit vom Betriebsstrom. Berechnet man hieraus die Ableitungsfunktionen, sind Anomalien (Kinks) der Laserdioden noch eindeutiger zu erkennen.

LIV-Testsysteme bestehen in der Regel aus Photodiode, Ulbricht-Kugeln und Source-Measure-Units (SMUs). In Kombination mit einem Spektralradiometer können zusätzlich spektrale Eigenschaften der Laserdioden wie Peak-Wellenlänge und Halbwertsbreite (FWHM) bestimmt werden. Diese Größen zeigen häufig eine Abhängigkeit vom Betriebsstrom. Das kann für ein VCSEL mit zunehmendem Betriebsstrom eine Verschiebung der Peak-Wellenlänge zu höheren Wellenlängen hin bedeuten. Je nach Lasertyp und Anforderung ist weitere Messtechnik erforderlich. Mit steigender Temperatur nimmt die Effizienz von Laserdioden oft signifikant ab. Deshalb ist für Applikationen zum Beispiel im Automotive-Bereich eine temperaturabhängige Analyse relevant. Die Specwin Pro unterstützt hierzu die Anbindung einer externen Temperatur-Einheit für Tests von 15 bis 150 °C.