Bildfeldunabhängig im Nanometerbereich messen

Im Interview mit David Löh, Chefredakteur der inspect, über die Messung der Oberflächenrauheit mittels Weißlicht-Interferometrie erläutert Dr.-Ing. Özgür Tan, strategisches Produktmarketing optische Messsysteme bei Polytec, das Prinzip dieses Messverfahrens und die Anwendungsszenarien. Außerdem erklärt Tan, warum sich das neue Gerät auch für Inline-Messungen eignet.