Test- und Inspektionssysteme mit künstlicher Intelligenz

11.04.2022 - Diese reichen von Inline-Inspektionslösungen über manuell einsetzbare Mikroskope bis hin zu KI-Lösungen, die auch außerhalb der Elektronikindustrie eingesetzt werden können. So zum Beispiel das 3D-SPI System VP9000 von Omron, das für die Lotpasteninspektion entwickelt wurde.

So kann der Bediener die gelieferte Auflösung des Systems jeweils bei Bedarf, inklusive des Field of View (FOV), dritteln, sodass sich auch feine Strukturen mit der gleichen Maschine sicher inspizieren lassen. Dies ist auch bei hohem Durchsatz möglich. Dabei nutzt die VP9000 ein 3D-Verfahren zur Erfassung und Messung des Siebdruckvolumens. Auch eine Funktion zur Schmutzinspektion ist verfügbar.