11.09.2020 • Produkte

Micro.View: Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails

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Micro.View ist das Kompaktsystem für den Einstieg in die optische 3D-Oberflächenprüfung feinster Strukturen. Mit Focus Finder, CST Continuous Scanning Technology, die den gesamten 100 mm Verfahrweg der Z-Achse auch als vertikalen Messbereich anbietet, ermöglicht die Stand-alone-Lösung schnelle Messungen auch in kleinen Prüf- und Forschungslabors.

Anbieter

Polytec GmbH

Polytec-Platz 1-7
76337 Waldbronn
Deutschland

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