Micro.View: Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails

Micro.View ist das Kompaktsystem für den Einstieg in die optische 3D-Oberflächenprüfung feinster Strukturen. Mit Focus Finder, CST Continuous Scanning Technology, die den gesamten 100 mm Verfahrweg der Z-Achse auch als vertikalen Messbereich anbietet, ermöglicht die Stand-alone-Lösung schnelle Messungen auch in kleinen Prüf- und Forschungslabors.