20.03.2026 • Produkte
Optisches Profilometer Lext OLS5500
Das hybride 3D Optical Profilometer Lext OLS5500 vereint Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer benutzerfreundlichen Plattform für Forschung, Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle.
Das hybride 3D Optical Profilometer Lext OLS5500 vereint Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer benutzerfreundlichen Plattform für Forschung, Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle.
© Evident
Präzise Optik, überprüfbare Kalibrierung und intelligente Automatisierung liefern verlässliche, nachvollziehbare Ergebnisse und reduzieren Bedienereinfluss. Mit WLI erreicht das OLS5500 bis zu 40-fach höheren Durchsatz als konventionelle LSM-Systeme. Zudem ist es das weltweit erste optische 3D-Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit sicherstellt.
