Optisches Profilometer Lext OLS5500

Das hybride 3D Optical Profilometer Lext OLS5500 vereint Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer benutzerfreundlichen Plattform für Forschung, Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle.

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Präzise Optik, überprüfbare Kalibrierung und intelligente Automatisierung liefern verlässliche, nachvollziehbare Ergebnisse und reduzieren Bedienereinfluss. Mit WLI erreicht das OLS5500 bis zu 40-fach höheren Durchsatz als konventionelle LSM-Systeme. Zudem ist es das weltweit erste optische 3D-Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit sicherstellt.