Bessere Messungen, schnellere Ergebnisse

Zur Steigerung der Effizienz und Produktivität in den Bereichen Fertigung, Qualitätssicherung und Anwendungsentwicklung wurde die DSX-Serie weiter ausgebaut. Dadurch lassen sich nun präzisere Messergebnisse innerhalb kürzerer Zeit erzielen. Die Serie umfasst neben dem neuen Wide-Zoom-Modell DSX110 auch zwei hochauflösende Systeme, das aufrechte Mikroskop DSX510 und das inverse Mikroskop DSX510i. Mit modernster optischer und digitaler Technologie ausgestattet, ermöglichen die digitalen DSX-Mikroskope schnelle, detaillierte berührungslose Inspektionen und Messungen und bieten somit eine vollständige, auf die Bedürfnisse der Industrie abgestimmte Plattform für Untersuchungen, Messungen und Berichte.
Präzise Messungen sind für industrielle Anwendungen entscheidend. Ausgehend von der Genauigkeit und Wiederholbarkeit von Messungen entlang der XY-Achse, garantieren die Mikroskope DSX510 und DSX510i diese Eigenschaften nun auch für Messungen in der Z-Ebene. Zusätzlich wurde die Stitching-Funktion für die detaillierte Inspektion größerer Objekte überarbeitet. Dank ausgeklügelter Stitching-Technologie werden selbst kleinste Artefakte vermieden und Bilder in hoher Qualität erzeugt.