Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT

High-Speed-Mikroskopie in der Qualitätsprüfung

Die High-Speed-Mikroskopie bietet eine vielseitige und kosteneffiziente Alternative zu teuren AOI-Systemen. Auf Basis lichtmikroskopischer Verfahren ermöglicht sie eine automatische Qualitätsprüfung mit hohem Durchsatz.

Mit Deep-Learning zu einer automatisierten, Cloud-basierten Qualitätskontrolle

Den Einsatz von künstlicher Intelligenz vereinfachen

Mit Kamera und KI den Werkzeug­verschleiß in Echtzeit prüfen

Bildverarbeitung unterstützt Maschinenwartung

Optikkomponenten schnell und genau ausrichten

Wellenfrontbasierte Optik-Justage

Produktionsnahe Inspektion von Miniaturlinsen

Wellenfrontmessungen für die automatisierte Optikprüfung

Schichtdicken auf 1 µm genau messen

Hochauflösende Optische Kohärenztomographie (OCT) zur Schichtdickenmessung

Optische Oberflächenmessverfahren zur Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen

Hochgeschwindigkeitsmikroskopie zur Qualitätskontrolle

Fraunhofer-Institut und Atos kooperieren

Zusammenarbeit von Fraunhofer ISOB und Atos bei MES-Beratungen

Ungetrübter Durchblick

Helfer ohne Fehl und Tadel

Tiefer Einblick in versteckte Orte