inspect - das führende Magazin für Angewandte Bildverarbeitung und optische Messtechnik: Trendberichte und Interviews, Fakten und Tipps. Diesmal u.a. mit folgenden Themen, Schwerpunkten und Messeberichten:
Messen:
W3+ FAIR
Embedded World
Logimat
Schwerpunkte:
Industrie-PCs & Smart Cameras
Optisches Messen und Prüfen
Tracking & Tracing
TITELSTORY
Imago: Nicht nur für Embedded Vision - ARM Cortex-A72 & Cortex-A15 für höchste Effizienz
MÄRKTE & MANAGEMENT
inspect: W3+ FAIR Messe und Branchenevent
VDMA: Perspektive Industrielle Bildverarbeitung
VISION
Basler: Integration von Bildverarbeitung in Embedded Systeme - Ein Schlüssel für neue Produktentwicklungen
Compar: Konfigurieren statt Programmieren - Schneller und effizienter zur Machine Vision Anwendung
Di-soric: Einer der kleinsten seiner Art - Kompakter Vision-Sensor für Prüf-, Mess- und Inspektionsaufgaben im optischen Nahbereich
Lumenera: Ein vielversprechender Ansatz - Aufbau eines Vision-Systems auf einer integrierten ARM-Plattform
Phytec: Aufbau von Embedded Imaging-Seriengeräten
Vision Components: Hidden Champions - Smart Cameras im Einsatz
AUTOMATION
Fraunhofer IPM: Markierungsfreie Identifikation von Mikrobauteilen mit intrinsischem Fälschungsschutz
CONTROL
Allied Vision: Keinen Sonnenstrahl vergeuden - Wie Infrarotkameras die Energiekonversion von Solarpanels verbessern können
Micro-Epsilon: Robotergeführte Defekterkennung auf spiegelnden Oberflächen
VISION PLACES
inspect: inspect award - Verleihung u. Präsentation der Winner
inspect: inspect application forum – Nachlese
inspect: Veranstaltungskalender 2017
