inspect - das führende Magazin für Angewandte Bildverarbeitung und optische Messtechnik: Trendberichte und Interviews, Fakten und Tipps. Diesmal u.a. mit folgenden Themen, Schwerpunkten und Messeberichten:

Messen:
W3+ FAIR
Embedded World
Logimat

Schwerpunkte:
Industrie-PCs & Smart Cameras
Optisches Messen und Prüfen
Tracking & Tracing

TITELSTORY
Imago:  Nicht nur für Embedded Vision - ARM Cortex-A72 & Cortex-A15 für höchste Effizienz

MÄRKTE & MANAGEMENT
inspect:  W3+ FAIR  Messe und Branchenevent
VDMA:  Perspektive Industrielle Bildverarbeitung

VISION
Basler:  Integration von Bildverarbeitung in Embedded Systeme - Ein Schlüssel für neue Produktentwicklungen
Compar:  Konfigurieren statt Programmieren - Schneller und effizienter zur Machine Vision Anwendung
Di-soric:  Einer der kleinsten seiner Art - Kompakter Vision-Sensor für Prüf-, Mess- und Inspektionsaufgaben im optischen Nahbereich
Lumenera:  Ein vielversprechender Ansatz - Aufbau eines Vision-Systems auf einer integrierten ARM-Plattform
Phytec:  Aufbau von Embedded Imaging-Seriengeräten
Vision Components:  Hidden Champions - Smart Cameras im Einsatz

AUTOMATION
Fraunhofer IPM:  Markierungsfreie Identifikation von Mikrobauteilen mit intrinsischem Fälschungsschutz

CONTROL
Allied Vision:  Keinen Sonnenstrahl vergeuden - Wie Infrarotkameras die Energiekonversion von Solarpanels verbessern können
Micro-Epsilon:  Robotergeführte Defekterkennung auf spiegelnden Oberflächen

VISION PLACES
inspect:  inspect award - Verleihung u. Präsentation der Winner
inspect:  inspect application forum – Nachlese
inspect:  Veranstaltungskalender 2017