Highlights der inspect 01 25
- Titelstory: Schnelle Beleuchtungssteuerung in komplexen Anwendungen
- Schwerpunkte: Embedded Vision & Logistik
- Blick in die Forschung: Deep Learning & 3D-Messtechnik
- Interviews mit Branchenexperten des VDMA, des IMVA, Baumer, MVTec & Siemens

Die Titelstory dieser Ausgabe kommt von Rauscher und dreht sich um "Effizientere Prüfprozesse durch Multistrobe-Imaging". Außerdem gibt es jeweisl einen Schwerpunkt zu Logistk und Embedded Vision.