Erweiterte Anomalie-Erkennung mittels KI
MVTec
Bei dem Release wurden sinnvolle Ergänzungen sowie Weiterentwicklungen von Kerntechnologien von Halcon vorgenommen. Das Feature „Global Context Anomaly Detection“ kann jetzt den logischen Inhalt des ganzen Bildes „verstehen“ und erkennt neue Varianten von Anomalien wie beispielsweise fehlende, verformte oder falsch angeordnete Bauteile. Dies ermöglicht das Überprüfen von Leiterplatten in der Halbleiterfertigung oder die Prüfung von Aufdrucken.
Die Ergänzung Halcons Deep OCR lässt Nutzer auf dem eigenen Anwendungsdatensatz ein individuelles Training vornehmen. Dadurch lassen sich auch komplexeste Anwendungen wie das Lesen von Text mit schlechtem Kontrast (zum Beispiel auf Reifen) lösen. Des Weiteren unterstützt Halcon verschiedene Standards zur Bewertung der Druckqualität von 1D- und 2D-Codes. Zusätzliche Operatoren verbessern den Bildkontrast und die Bildglättung.