INHALT

TITELSTORY
Softwareentwicklung auf neuen Wegen
Konfigurieren statt Programmieren
Raoul Kimmelmann

EDITORIAL
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Stephanie Nickl

TOPICS
Auf Entdeckungstour in Stuttgart
Die INSPECT Discovery-Tour Vision 2009

LeseEcke
Wider den Turmbau zu Babel

News
Umfrage
Event Kalender
Online

Topics with Impact: All you ever wanted to know about 3D
3D-Bildverarbeitung und 3D-Messtechnik in der INSPECT-Podiumsdiskussion

Blick in die Zukunft
Neue Bildverarbeitungs-Lösungen und Trends auf der Automatica 2010

Entspannt technisch
Kappa-Sommer-Symposium in Northeim

Gute Aussichten
Vision 2009 knüpft an die Vorjahreserfolge an

Vision Special Messevorberichterstattung

Viewpoint
Vom Akademiker zum Geschäftsmann
Dr. Savvas Chamberlain

Beherrschbare Zeit
Grundlagen der Bildverarbeitung: Echtzeit
Prof. Dr. Christoph Heckenkamp

Visionäre
Interview mit Dr. Savvas Chamberlain, Chairman of the Board, Dalsa Corporation

VISION
Als Paket geschnürt
Mehr als nur Kameras - die Komplettlösung für GigE Vision
Carsten Wehe

Smart, geschmeidig, kraftvoll
Neue Generation von Smart-Kameras für die Fabrikautomation
Steve Geraghty

Science Fiction wird Realität
Futuristische Computer-Interaktion durch Stereoskopische Bildverarbeitung
Arnaud Destruels

Farbe geben
1-Chip-CCD-Kameras berechnen Farben aus Helligkeitswerten
Dr. Henning Bässmann

Geschwindigkeits-Booster
Geschickt eingesetzte Netzwerktechnologie verdoppelt die Datenübertragungsrate des GigE Interfaces
Laurette Perrard

Vision System Modellierung
Bildverarbeitungs-Konstruktion mit CAD Software
Matthias Voigt

Preisgekröntes Konzept
Smart Kamera im reinen FPGA-Ansatz

Die Definition von Megapixel Objektiven...
Andreas Kronwald

Gigantisches Potential
Flexible Topologie bei GigE-Vision Systemen erschließt neue (ungeahnte) Möglichkeiten
Andreas Schaarschmidt

AUTOMATION
Modular, effizient, vielseitig
Plattformstrategie für das automatisierte Materialhandling
Dr.-Ing. Frank Grünewald

Das Salz der Erde
Erstmals spezielle Plattform für Systemintegratoren auf der Vision

Die Nadel im Heuhaufen
Auf der Suche nach kleinsten Fehlern auf großen Flächen
Dr. Erhardt Barth, Sascha Klement, Fabian Timm

Optimale Kombination
Sensorlösungen für die Photovoltaik-Produktion
Thomas Hall

CONTROL
Klein, kleiner, piko
Industrielle Messtechnik setzt Pico-Projektoren als optische 3D-Sensoren ein
Robert W. Kuhn

Licht-Botschaften
Elektrolumineszenz-Analysen steigern die Qualität von Dünnschicht-Solarzellen
Raf Vandersmissen