Keyword: Messe Control

Messtechnik-Suite in neuer Version

Mitutoyo Europe GmbH -

Mitutoyo bringt die neueste Version seiner Messtechnik-Suite für Koordinatenmessgeräte heraus. Verbessert wurden vor allem die Benutzeroberfläche, die jetzt laut...

Bildverarbeitung

Neues Inline-Röntgensystem mit hoher Flexibilität

Göpel electronic GmbH -

Göpel hat ein neues Inline-Röntgensystem mit dem Namen Flexline 3D vorgestellt. Die neue AXI-Maschine (Automated X-ray Inspection) bietet dem Nutzer Vorteile im Hinblick...

Bildverarbeitung

Short-Pulse-Testing für High-Power-LEDs

Instrument Systems GmbH -

Für die Ausführung von Short-Pulse-Messungen sind Spektralradiometer mit minimalen Messzeiten im Mikrosekunden-Bereich und präzisem Trigger erforderlich. Instrument...

Bildverarbeitung

Computertomograph für zerstörungsfreie Bauteil-Inspektion

Carl Zeiss AG -

Mit Zeiss Metrotom 1 bringt Zeiss jetzt eine Einstiegslösung für die zerstörungsfreie Prüfung von Bauteilen auf den Markt. Der kompakte Computertomograph liefert präzise...

Bildverarbeitung

Multi-Beam-Interferometer für jeden Einsatzzweck

SIOS Meßtechnik GmbH -

Die Ein- und Mehrstrahl-Interferometer von Sios adressieren die unterschiedlichsten Anwendungsszenarien – von Kalibrieraufgaben und simultanen Weg-Winkelmessungen über...

Bildverarbeitung

Optische Ausrichtungssysteme und Abtastvorrichtungen im Fokus

Aerotech GmbH -

Aerotech hat auf der ECOC Exhibition, einer Messe Glasfaser- und Kommunikationstechnik, das mehrachsige Photonik-Ausrichtsystem FiberMaxHP vorgestellt. Das...

Bildverarbeitung

Teleobjektive für die Laserprozessbeobachtung

Sill Optics GmbH -

Sill Optics hat Teleobjektive mit verstellbarem Fokus für die Laserprozessbeobachtung vorgestellt: Die Modelle S5VPJ0303 und S5VPJ0305 sollen neue preiswerte Alternativen...

Bildverarbeitung

Inline-Weißlichtinterferometer für schnelle Fertigungsprozesse

Polytec GmbH -

Polytec hat seine Weißlicht-Interferometer-Serie Topmap um ein spezielles Inline-Messsystem erweitert. TopMap Rapid View erfüllt hinsichtlich Messzeit und Auflösung...

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