LEXT OLS5000 – Für hochpräzise, effiziente Inspektionen
Das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS5000 misst zum Beispiel die Rauheit von Oberflächen im Submikrometer-Bereich. Für noch produktiveres Arbeiten erfolgt die Datenerfassung viermal schneller als bei früheren Systemen.