EVK ng präsentiert Helios EQ32 als Werkzeug zur Echtzeit-Datenanalyse von industriellen Materialströmen. Das ortsauflösende Nahinfrarot Kamerasystem zur kontaktlosen Messung bietet die Möglichkeit der Erfassung und Analyse von chemischen Eigenschaften von Stück- und Schüttgut. In enger Kooperation mit Partnern aus dem Maschinen- und Anlagenbau, wurde mit Helios EQ32 ein speziell auf industrielle Arbeitsbedingungen abgestimmtes Messsystem geschaffen. Durch das stabile optomechanische Design für reale industrielle Temperaturbedingungen, Maschinenkonstruktionen und Anwendungsfelder, sowie speziell für Analytik entwickelte Datenverarbeitung und Algorithmik, ermöglicht Helios EQ32 eine optimierte Analyse direkt in der Prozesslinie. 

Der Workflow, in welchem das System mit Hilfe der EVK Software SQALAR konfiguriert wird, chemometrische Modelle erstellt und übertragen werden, erfolgt nahtlos. Die Auswertung findet vollständig im Helios EQ32 System statt, wodurch keine externen Auswertungssysteme benötigt werden. Eine Anbindung an bereits bestehende Auswertungssysteme ist jedoch einfach über GigE Vision/GenICam und Camera Link möglich. Helios EQ32 ist mit 312 Pixeln Ortsauflösung ausgerüstet, misst im Wellenlängenbereich von 930 – 1700nm und scannt mit einer Bildrate von 446Hz full frame.