Mirtec und Yxlon kündigen eine neue strategische Kooperation an: Gemeinsam wollen sie das System SmartLoop vermarkten. Dazu wird das Mirtec Inline-3D-AOI-System mit den Yxlon Mikrofokus-Röntgensystemen - beginnend mit der FeinFocus-Produktlinie - verbunden und mit einem starken Management-Informationssystem kombiniert. Fehlerverdächtige Teile, die inline nicht vollständig geprüft werden können (wie BGA, QFN etc.), werden automatisch mit industriell führender Technologie inspiziert, inklusive verdeckter Lötstellen.

Sämtliche Ergebnisse, Daten und Bilder, einschließlich der SPI-Daten, werden auf einem einzigen Bildschirm dargestellt. Das ermöglicht präzise Entscheidungen auf der Grundlage vollständiger Details. Durch das Tracking von Trends können Techniker zudem Akzeptanzgrenzen in der 3D-AOI und der SPI anpassen, um die Prüfgenauigkeit zu erhöhen. Sämtliche Daten werden an einer Stelle gespeichert. Das gewährleistet lückenlose Rückverfolgbarkeit und ermöglicht es, Tendenzen zu überwachen und Berichte zu erstellen. Das Ergebnis: eine erhebliche Ertragssteigerung. Denn die Zahl der Fehlalarme ebenso wie die des nicht entdeckten Ausschusses kann dramatisch gesenkt werden.