Opto-digitale Mikroskope verhelfen der industriellen Mikroskopie nicht nur zum Sprung ins digitale Zeitalter, sie auch sind eine ideale Lösung für Oberflächeninspektionen und -messungen in vielen Produktionsbereichen. Die Oberflächentopologie ist eine wichtige Eigenschaft, da verschiedene Anwendungen jeweils ein genau festgelegtes Maß an Oberflächenrauheit erfordern: Denn zum einen bestimmt die Rauheit die Wechselwirkungen zwischen zwei Oberflächen, zum anderen bergen Unregelmäßigkeiten das Potenzial zur Keimbildung für Risse oder Korrosion.

Die Oberflächenrauheit wird traditionell mittels Kontaktprofilometrie gemessen, ein etabliertes Verfahren, das aber mit einigen Nachteilen behaftet ist. Dem gegenüber bietet die konfokale 3D-Laser-Scanning-Mikroskopie durch das kontakt- und zerstörungsfreie Messverfahren zahlreiche Vorteile. So wird bei der Kontaktprofilometrie die Auflösung vom Durchmesser der 4 µm dicken Nadelspitze beschränkt, während der Laser des 3D-Laser-Scanning-Mikroskops LEXT OLS4100 von Olympus noch Strukturen in der Größenordnung von nur 0,2 µm erfasst. Außerdem kann die Diamantspitze der Nadel beim Abtasten speziell die Oberfläche weicherer Materialien verkratzen. Oder sie bleibt bei haftenden Proben hängen und wird dadurch selbst beschädigt, was die Ergebnisse verzerrt. Die optische Profilometrie wird in der Industrie daher immer beliebter, besonders jetzt, wo das Olympus LEXT 3D-Oberflächenmessungen gemäß des führenden GPS-Standards (geometrische Produktspezifikationen) nach ISO25178 ermöglicht. Das LEXT OLS4100 ist die jüngste Erweiterung der Serie opto-digitaler Mikroskope von Olympus. Die Steuerung dieser Systeme erfolgt über ein digitales Display, auf dem auch die mikroskopischen Bilder angezeigt werden. Die Bedienung ist einfach und intuitiv, sodass auch Neueinsteiger hervorragende Ergebnisse erzielen können. Verschiedene innovative System- und Software-Funktionen sorgen dafür, dass präzise Inspektionen und Messungen auch ohne profunde Kenntnisse der Mikroskopie möglich werden.

Nehmen Sie am Webinar "Benefits of opto-digital microscopes for industrial inspection" teil, das am 24. Oktober um 16:00 Uhr (MEZ) stattfindet. Miriam Schwentker von Olympus wird die Vorzüge der opto-digitalen Mikroskopie für die Oberflächeninspektion und -metrologie im Bereich der industriellen Qualitätsprüfung erläutern. Zu dem Thema haben wir auch bereits ein englischsprachiges Whitepaper bereit gestellt, dass man sich kostenlos herunterladen kann.

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