Am 22. Und 23. Oktober 2014 hat das Unternehmen zum 19. Mal den Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis" (VIP 2014) ausgerichtet. Dieser fand im Veranstaltungsforum Fürstenfeldbruck bei München statt. Die neuesten technologischen Entwicklungen, Trends und Lösungen rund um die Themenbereiche Mess- und Automatisierungstechnik sowie Embedded standen dabei im Mittelpunkt. Die Teilnehmer konnten sich in Vorträgen zu „Test & Measurement", „Embedded Control & Monitoring", „Data Management", „LabVIEW Power Programming" und „Verification & Validation" informieren sowie Anwendungsbeispiele und Live-Demonstrationen in verschiedenen Workshops und Seminaren erleben.

Nach der Begrüßung der Teilnehmer durch Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, NI, standen am ersten Kongresstag zukünftige Trends und Herausforderungen der Energiebranche im Mittelpunkt. Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management Solutions bei Siemens Energy, erläuterte, welche Maßnahmen ineinandergreifen müssen, damit die Energiewende gelingen kann. Anschließend zeigte Owen Golden, Vice President Energy bei NI, wie mit den Werkzeugen von NI in enger Zusammenarbeit mit führenden Industrieunternehmen vielversprechende Ideen für ein intelligenteres Stromnetz entwickelt werden.

Am zweiten Kongresstag stellten Rahman Jamal, Technical and Marketing Director Europe und Daniel Riedelbauch Marketing Manager Central Europe die neuesten Produktentwicklungen und Technologien von NI im Rahmen der New Product Introduction Keynote vor. Neben der neuen Version von Labview wurde mit NI Insight CM Enterprise eine neue Software-Lösung zur Online-Zustandsüberwachung von Maschinen und Anlagen vorgestellt. Hardwareseitig präsentierte NI den neuen Controller NI cRIO-9033 und das NI System on Module (SOM) für den Embedded-Bereich. Für die PXI-Plattform wurden vier neue Messgerätetypen für automatisierte Testanwendungen gezeigt, darunter der neue VSA NI PXIe-5668R für den RF-Bereich sowie das Oszilloskop NI PXIe-5171R mit acht Kanälen. All diese Gerätetypen vereinen die Vorteile softwaredesignter Messtechnik auf Basis der FPGA-Technologie. Sie sind für das automatisierte Testen und Forschen im Bereich Wireless- und mobile Geräte, in der Halbleiter- sowie die Automobilindustrie und in der Luft- und Raumfahrt konzipiert. Mit dem NI Semiconductor Test Systems (STS) zeigte NI eine PXI-basierte Systemreihe, welche die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglicht und deshalb die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senkt. Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt den Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten.

Im Rahmen des VIP 2014 präsentierten außerdem rund 40 Partner und Systemintegratoren in der begleitenden Fachausstellung ihre Lösungen und Produkte.