Vom 24. bis 25. Oktober wird das ICS International Congress Center Stuttgart wieder zum  Mittelpunkt der Embedded Vision Szene. Zwei Tage lang geht es dort auf der Fachkonferenz Embedded Vision Europe 2019 (eVe) um alle Aspekte dieser disruptiven Technologie. Die Konferenzteilnehmer erwartet ein umfangreiches Vortragsangebot sowie embedded Vision Lösungen in der begleitenden Ausstellung und reichhaltig Zeit für ausgewählte Networking-Aktivitäten.

Eröffnungs-Keynote von Intel

Ein Highlight der Konferenz wird die Eröffnungs-Keynote von David Austin, Sr Principal Engineer bei der Intel Corporation und zuständig für KI-basierte Lösungen für den industriellen IoT-Markt zum Thema 'Flexible and Practical AI for Industrial Deployment'. Darin wird er konkrete Vorschläge für praktische Umsetzungsmöglichkeiten geben, um Leistungskennzahlen wie Genauigkeit, Latenzzeit und Kosten beim industriellen Einsatz von Künstlicher Intelligenz zu optimieren. Die Konferenzteilnehmer sollen die gewonnenen Erkenntnisse bei ihren eigenen IIoT-Projekten direkt in die Praxis umsetzen können.

Der Vortrag von Jagan Ayyaswami von Micron Technology beschäftigt sich mit Prozessor-Architekturen für Machine Learning. Im selben Themenkomplex angesiedelt ist der anschließende Vortrag von Ratislav Struharik von IDS mit seiner Präsentation „Universal CNN Accelerator intended for edge-base AI inference”. Neil Trevett, Vice President Developer Ecosystems bei NVIDIA  und Präsident des Khronos-Konsortiums thematisiert hält seine Rede zum Thema „APIs for Accelerating Vision and Inferencing: an Industry Overview of Options and Trade-offs”. Weitere Redner sind Andrea Dunbar, Head of Embedded Vision Systems beim CSEM, die über 'Autonomous data-logger with ULP imager' spricht, sowie Michael Engel. Der Gründer und Präsident von Vision Components stellt 'MIPI Cameras: New Standard for Embedded Vision' vor.

Zweiter Konferenztag mit Deep Learning als einem der Schwerpunkte

In seinem Vortrag 'Embedded Learning and the Evolution of Machine Vision' blickt Jonathan Hou, Chief Technology Officer bei Pleora zu Beginn des zweiten Konferenztages auf die rasante Entwicklung der Bildverarbeitung der letzten Jahre. “Using Sparse Modeling in Visual Inspection to Solve Issues Deep Learning Can't” ist das Vortragsthema von Takashi Someda, seines Zeichens Chief Technology Officer bei Hacarus. Über die bestehenden Deep Learning-Modelle hinaus schaut Dr. Vassilis Tsagaris, CEO von IRIDA Labs und spricht über 'A holistic embedded vision approach: looking beyond the deep learning models'. Pierre Gutierrez, Lead machine learning researcher bei Scortex spricht  über 'The challenges of deploying Deep Learning for visual quality inspection'.
Gion-Pitschen Gross, Product Manager bei Allied Vision addressiert die praktischen Umsetzungsfragen in seiner Präsentation “How to set up an embedded system for industrial embedded vision - Requirements, components, and solutions”. Die Schlusspräsentation am zweiten Konferenztag hält Bram Senave, Business Development Manager at Easics zum anwenderorientierten Thema „Embedded deep learning in PCB inspection”.

Eingerahmt wird das Vortragsprogramm der eVe-Konferenz 2019 von einer Table-Top Ausstellung sowie zu  Möglichkeit individuell buchbaren B2B-Meetings in den Konferenzpausen. Informationen zur Anmeldung finden Sie hier.