High-End-Messtechnik für XR Experience
Auf der SPIE AR|VR|MR 2025 und der Photonics West 2025 in San Francisco präsentiert Instrument Systems seine High-End-Messgeräte für die optische Qualitätssicherung von AR/VR/MR-Geräten entlang der gesamten Produktionskette
Auf der SPIE AR|VR|MR wird am Stand 6302 die neue LumiTop 5300 AR/VR vorgestellt. Diese 2D-Leuchtdichte- und Farbmesskamera mit 24 MP Auflösung und geradem Objektiv eignet sich besonders gut für die Prüfung von AR/VR/MR-Anzeigemodulen vor dem Einbau in das Headset. Sie ergänzt die bewährte LumiTop 4000 AR/VR mit Periskopobjektiv.
Neu ist auch das TOP 300 AR/VR, eine optische Sonde für schnelle und einfache Qualitätstests von Headset-Modulen auf Leuchtdichte und Farbe in Produktion und Entwicklung. Es imitiert das menschliche Auge und ist direkt mit einem Spektroradiometer der CAS-Serie verbunden.
Außerdem wird das LumiTop X150 ausgestellt, eine ultrahochauflösende Leuchtdichte- und Farbmesskamera, die für die Qualitätskontrolle von OLED- und MicroLED-Displays auf Pixelebene entwickelt wurde.