Das Gerät verfügt über die Impulsgeberkapazität und die Möglichkeit, bis zu 64 Prüfkopfelemente gleichzeitig anzusteuern und so die Datenerfassungsgeschwindigkeit für die TFM-Bildgebung (Total Focusing Method) zu erhöhen. Diese erweiterten Kapazitäten lassen sich einsetzen, um das Anwendungsportfolio zu erweitern und zu diversifizieren.

Es kann TFM-Bilder viermal so schnell verarbeiten wie sein Vorgänger und wird im gleichen robusten Gehäuse geliefert. Durch den integrierten Speicher von 1 TB können Prüfer auch länger vor Ort arbeiten und umfassendere Prüfaufträge durchführen, ohne Daten zu übertragen.

Um die Prüfung komplexer und dickerer Prüfteile oder Schweißanwendungen zu erleichtern, ermöglicht die volle 64-Elemente-Apertur mit PA und 128-Elemente-Apertur mit TFM des Geräts die Optimierung der erweiterten Dual-Linear-Array- (DLA) und Dual-Matrix-Array-Sensoren (DMA). Um Zeit bei Einstellungen zu sparen, verfügen alle Modelle der Omniscan-X3-Serie über eine integrierte DLA- und DMA-Unterstützung.