Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (DAGM) blickt auf die erfolgreiche Durchführung der 37. German Conference on Pattern Recognition (GCPR 2015) zurück. Diese jährliche Konferenz der DAGM fand vom 7. bis 10. Oktober am Informatikzentrum der Rheinisch-Westfälischen Technischen Hochschule (RWTH) Aachen, organisiert vom Visual Computing Institute, statt, wobei Prof. Bastian Leibe und Prof. Leif Kobbelt für die Organisation verantwortlich zeichneten. Erstmalig wurde die GCPR zusammen mit dem International Symposium on Vision, Modeling and Visualization (VMV 2015), der Jahrestagung des Fachbereichs grafische Datenverarbeitung der Gesellschaft für Informatik (GI), veranstaltet. In zahlreichen Vorträgen und Workshops konnten sich die insgesamt 260 Teilnehmer aus Wissenschaft und Industrie über wichtige Themen aus Mustererkennung und Bildverarbeitung sowie grafischer Datenverarbeitung und Visualisierung informieren. Dabei gaben die Keynotes von Niloy Mitra, Max Welling und Andrew Blake tiefe Einblicke in die Thematik und beleuchteten wegweisende Zukunftstrends.

Bedeutende Preise für herausragende Leistungen

Mit der Verleihung hochrangiger Awards würdigte die DAGM im Rahmen der Konferenz herausragende Leistungen und Veröffentlichungen von Experten aus dem Umfeld der Mustererkennung: So ging der deutsche Mustererkennungspreis (gesponsert von Daimler) an Stefanie Jegelka vom Massachusetts Institute of Technology (MIT) für besondere Beiträge zur submodularen Optimierung mit Anwendungen in der Computer Vision. Den DAGM MVTec Dissertationspreis erhielt Marcus Rohrbach, derzeit an der University of California Berkeley, für seine Dissertation zum Thema „Combining Visual Recognition and Computational Linguistics“. Mit dem Best Paper Award der GCPR wurden Andreas Geiger und Chaohui Wang für den Fachartikel zum Thema „Joint 3D Object and Layout Inference from a single RGB-D Image“ ausgezeichnet. Preisträger des Best Paper Award der VMV waren Emanuele Rodolà, Michael Moeller und Daniel Cremers. Das Trio bekam die Auszeichnung für die Publikation zum Thema „Point-wise Map Recovery and Refinement from Functional Correspondence“. Sämtliche Preisträger der vergangenen Jahre finden sich auf der Webseite der DAGM.

Hochrangiges Expertentreffen für Mustererkennung

„Auf der diesjährigen GCPR traf sich erneut eine Vielzahl europäischer Spezialisten für Mustererkennung. Die Teilnehmer profitierten sowohl vom fundierten Expertenwissen der Referenten als auch vom lebendigen, fachlichen Austausch mit Gleichgesinnten. Dabei bereicherte die zeitliche und örtliche Zusammenlegung mit der VMV 2015 die Vielfalt an Themen und ermöglichte Synergien zwischen beiden Fachgebieten. Wir freuen uns auf die GCPR 2016 in Hannover“, resümiert Prof. Dr. Carsten Steger, Pressesprecher der DAGM sowie Director Research bei der MVTec Software GmbH.